如何在高速薄膜生产中实现10纳米至1毫米厚度范围的非接触式在线高精度检测？【薄膜质量控制与传感器选型】

1. 基于薄膜的基本结构与技术要求

薄膜，顾名思义，是一种厚度相对较小的连续性材料，其形态多样，可以是塑料、金属、复合材料或涂层。在工业生产中，薄膜通常以卷材形式连续制造，例如塑料包装膜、电池隔膜、光学薄膜、涂层材料等。

这类材料的基本结构特点是：* 薄且均匀： 核心要求是厚度极小且在整个表面上保持高度一致。例如，有些光学薄膜的厚度仅为几纳米，而包装薄膜可能在几十微米到几毫米之间。* 柔性与连续性： 大多数薄膜在生产线上是连续高速运行的，具有一定的柔性，容易发生抖动或变形。* 材料多样性： 可能是透明、半透明、不透明；表面可能光滑、粗糙、有纹理；颜色也可能各异。

基于这些特性，对薄膜进行在线厚度检测提出了以下严格的技术要求：* 非接触式测量： 避免接触对薄膜造成损伤或影响其物理特性，尤其对于脆弱或表面要求高的薄膜。* 高速实时测量： 薄膜生产线速度快，测量系统必须具备高采样率和快速响应能力，以捕捉瞬时厚度变化并及时反馈控制。* 高精度与高分辨率： 能够精确分辨微小的厚度差异（例如微米甚至纳米级），确保产品质量符合严格标准。* 测量稳定性与可靠性： 在长时间、连续运行以及环境变化（如温度、湿度、粉尘、振动）的条件下，测量结果依然准确可靠。* 材料适应性广： 能够应对不同颜色、透明度、表面光泽度和材质的薄膜。* 对生产环境的适应性： 尤其是针对潮湿、多尘或存在电磁干扰的工业环境，传感器需具备良好的抗干扰能力。

2. 针对薄膜的相关技术标准简介

在薄膜的生产和检测过程中，有多个关键参数需要监测和评估，以确保产品质量。这些参数的定义和评价方法是行业通用的。

• 薄膜厚度 (Thickness)： 这是最核心的参数，指的是薄膜垂直于其表面的尺寸。它直接影响薄膜的物理性能（如强度、阻隔性、光学性能）和成本。

  • 评价方法： 通常通过在薄膜的长度和宽度方向上进行多点测量，计算平均厚度、最大厚度、最小厚度和厚度波动范围。

• 薄膜均匀性 (Uniformity)： 指的是薄膜在整个平面上厚度分布的一致性。厚度不均匀会导致产品性能不一致，甚至在后续加工中出现问题。

  • 评价方法： 通过测量多个点的厚度数据，计算厚度标准偏差（Standard Deviation）或厚度百分比偏差，来量化其均匀性。

• 单位面积质量 (Basis Weight)： 指的是单位面积薄膜的质量，通常用克/平方米（g/m²）表示。对于单一材料的薄膜，单位面积质量与厚度和材料密度直接相关。

  • 评价方法： 测量单位面积薄膜的质量，然后结合材料密度和厚度进行相互验证或转换。

• 表面粗糙度 (Surface Roughness)： 指薄膜表面微观凹凸不平的程度。虽然不直接是厚度，但它可能影响薄膜的功能性（如摩擦力、光学散射）和某些厚度测量方法的准确性。

  • 评价方法： 通常通过接触式或非接触式表面轮廓仪进行测量，获取Ra、Rz等粗糙度参数。

• 光学透明度与雾度 (Optical Transparency & Haze)： 对于光学薄膜或包装膜，其透光性能和清晰度是重要指标。

  • 评价方法： 通过专业的雾度计和透光率仪进行测量。

这些参数的准确获取是薄膜生产质量控制的关键，不同的检测技术方案会针对其中一个或几个参数进行优化。

3. 实时监测/检测技术方法

本节将深入探讨市面上主流的薄膜在线厚度检测技术方案。

（1）市面上各种相关技术方案

激光三角测量法

• 工作原理和物理基础： 想象一下你用一支激光笔斜着射向一张纸，然后从旁边不同的角度观察那个光点。当纸张离你近一点时，光点在你视野中的位置会往一个方向偏；当纸张离你远一点时，光点就往另一个方向偏。激光三角测量法正是利用这个几何原理。传感器内部会发射一束激光，在被测薄膜表面形成一个光点。这个光点反射回来的光线，会被传感器内部的接收镜头接收，并聚焦到一个位置敏感探测器（PSD）或CMOS/CCD阵列上。当薄膜的厚度变化，导致其表面与传感器之间的距离发生微小变化时，光点在探测器上的位置就会发生偏移。通过精确测量这个偏移量，结合传感器固定的发射角和接收角，就可以根据三角函数关系计算出薄膜表面到传感器的距离。

  对于在线薄膜厚度测量，通常有两种方式：一种是采用两个相对布置的激光三角传感器，分别测量薄膜的上下表面到各自传感器的距离，然后通过两距离之和减去两个传感器之间的基准距离来获得薄膜厚度；另一种是将薄膜压实在一平整的基准辊上，一个激光三角传感器测量薄膜上表面到传感器的距离，减去预先标定好的基准辊表面到传感器的距离，即可得到薄膜厚度。

  其核心物理公式基于几何三角关系，简化表示为：h = L * sin(θ) / (sin(φ) + cos(φ) * cot(α))其中，h 是测量距离的变化，L 是基线长度（发射器到接收器距离），θ 是激光发射角，φ 是接收角，α 是物体表面的反射角。在实际应用中，经过精密校准，可以将探测器上的光点位置变化直接映射为距离变化。

• 核心性能参数：

  • 测量范围：通常从几毫米到几米不等，覆盖广。

  • 分辨率：可达微米级甚至亚微米级（0.01% F.S.或更好）。

  • 重复精度：通常在0.01%至0.1% F.S.范围内。

  • 采样速度：通常可达几十kHz。

  • 光斑尺寸：可小至几十微米，大至数毫米，适应不同测量需求。

• 技术方案的优缺点：

  • 优点： 非接触式，测量速度快，适用于高速生产线。结构相对紧凑，易于集成。对多种材料（不透明、半透明）都有较好的适应性。

  • 缺点： 测量精度可能受薄膜表面光泽度、颜色（尤其是黑色吸光或镜面反射）以及透明度的影响。对于高透明薄膜，激光可能穿透薄膜而非在表面反射，导致测量困难。测量通常为点测量，需要扫描架来获取全幅数据。

• 成本考量： 中等偏高，但相比射线类传感器更低，且无需放射源安全许可。

β射线透射法

• 工作原理和物理基础： 想象你用一个特殊的“手电筒”去照一张纸，这个“手电筒”发出的是肉眼看不见的β射线（一种高速电子流），而“纸”就是被测量的薄膜。在纸的另一面放一个“接收器”来检测穿透纸张的射线强度。如果纸越厚或者密度越大，那么穿透过去并到达接收器的射线就越少。β射线透射法正是利用这个原理。传感器通过放射性同位素（如氪-85或锶-90）发射低能量β射线，穿透被测薄膜。薄膜内部的原子会吸收或散射部分β射线，导致射线能量衰减。放置在薄膜另一侧的探测器测量透射后的射线强度。由于薄膜的厚度（或单位面积质量）与β射线衰减程度呈指数关系，系统可以根据衰减量精确计算出薄膜的单位面积质量，再结合材料密度推算出薄膜厚度。

  其核心物理公式为比尔-朗伯定律的变体：I = I0 * e^(-μ * ρ * t)其中，I0 是初始（未衰减）射线强度，I 是透射后射线强度，μ 是材料的质量吸收系数，ρ 是材料密度，t 是薄膜厚度。通过测量I和I0，即可计算出t。

• 核心性能参数：

  • 测量范围：适用于塑料薄膜、无纺布、橡胶片材等，厚度可达数毫米。不适用于非常薄的薄膜（如小于10微米）。

  • 测量精度：通常可达到±0.5%至±1%的测量精度。

  • 扫描速度：具备高速在线测量能力，扫描周期可根据生产线速度灵活调整。

  • 非接触式，实时在线测量。

• 技术方案的优缺点：

  • 优点： 测量稳定可靠，几乎不受薄膜颜色、表面光泽度、纹理、温度和湿度等因素影响，适用性广。能测量不透明材料。

  • 缺点： 需要使用放射性同位素源，涉及辐射安全问题，需要严格的法规许可、操作培训和废源处理，增加了使用和维护成本。无法区分多层薄膜中各层的独立厚度。对极薄的薄膜测量精度有限。

• 成本考量： 较高，包含设备成本、许可费用和安全维护成本。

白光共焦原理

• 工作原理和物理基础： 想象一个神奇的“彩虹手电筒”，它发出的不是单一颜色的光，而是所有颜色的光混合在一起的白光。这个手电筒的镜头很特别，它会让不同颜色的光聚焦在不同的深度上（这就是所谓的“色差效应”）。白光共焦传感器就像这个“彩虹手电筒”。它将宽带白光通过一个高数值孔径的物镜投射到被测薄膜表面。由于色差效应，不同波长的光会聚焦在不同的深度。当传感器移动或扫描时，只有当特定波长的光焦点与薄膜表面或内部界面（例如透明薄膜的上下表面）重合时，反射光才会通过一个微小的共焦针孔到达探测器，此时该波长的信号强度达到最大。通过精确识别这个峰值波长，并结合预先校准的“波长-深度”对应关系，可以实现对薄膜表面高度的精确测量。对于透明薄膜，由于光线可以穿透并从内部界面反射，它甚至能同时检测到多个界面的高度，从而计算出多层薄膜中每一层的独立厚度。

  其物理基础是光的色散和共焦成像原理。色散使得不同波长具有不同的焦距（Z=f(λ)），而共焦原理（通过针孔滤除离焦光）确保只有聚焦在目标表面的光才能到达探测器，从而获得高轴向分辨率。

• 核心性能参数：

  • 测量范围：典型Z轴测量范围1 mm至20 mm。

  • 重复精度：可达0.005 µm (5 nm) 至 0.05 µm (50 nm)。

  • 采样速度：最高可达64 kHz。

  • 光斑尺寸：最小可达约Ø3 µm。

• 技术方案的优缺点：

  • 优点： 非接触式，测量精度极高，采样速度快。尤其擅长测量透明、半透明以及多层透明薄膜的厚度，能一次性获取各层厚度。测量结果不受薄膜颜色、粗糙度和倾斜度影响。

  • 缺点： 传感器结构相对复杂，成本较高。对于极度散射的表面或极度黑暗的吸光表面可能表现不佳。

• 成本考量： 较高。

X射线荧光 (XRF) 原理

• 工作原理和物理基础： 想象你有一件衣服，上面有不同颜色的图案，这些图案是由不同的染料（元素）组成的。X射线荧光就像用一种特殊的“光”（初级X射线）去照射这件衣服。当这种光线打到衣服上时，衣服上的不同“颜色粒子”（薄膜中的各种元素原子）会被“激发”，然后发出自己独特的、肉眼看不见的“光芒”（特征X射线荧光）。传感器内部的探测器会捕捉并分析这些“光芒”的能量和强度。每种元素发出的“光芒”能量都是独一无二的，而“光芒”的亮度则与该元素的含量和所在层的厚度有关。通过分析这些特征X射线的强度，就可以定量确定薄膜中特定元素的含量，进而精确计算出单层或多层薄膜的厚度，特别适用于涂层厚度测量。

  其物理基础是元素的特征X射线荧光发射。当样品受到初级X射线激发时，原子内层电子被电离，外层电子跃迁填充空位并释放出具有特征能量的X射线。这些特征X射线的强度与对应元素的量成正比，对于薄膜测量，则与薄膜厚度相关。

• 核心性能参数：

  • 测量范围：通常可测量纳米至数十微米级别的薄膜厚度（如数纳米至40微米）。

  • 测量精度：通常可达到百分之几的相对误差或亚微米级绝对误差。

  • 光斑尺寸：可提供小至数十微米的光斑。

  • 非接触式，多元素分析，非破坏性。

• 技术方案的优缺点：

  • 优点： 非接触式，非破坏性，可以进行多元素同时分析，尤其适用于测量金属和非金属基材上的涂层、薄膜、合金层和电镀层厚度。对于需要分析薄膜成分的场景也很有用。

  • 缺点： 传感器内含X射线源，存在辐射安全问题，需要相应的防护措施和许可。要求被测薄膜或涂层中含有可被XRF识别的特定元素，不适用于纯粹的单一材料薄膜（除非是测量其对基材的覆盖）。成本较高。

• 成本考量： 较高。

（2）市场主流品牌/产品对比

这里我们对比几家在薄膜在线厚度测量领域表现突出的国际品牌：

• 美国赛默飞世尔科技 (采用β射线透射法)

  • 核心参数：测量范围适用于塑料薄膜、无纺布、橡胶片材等，厚度可达数毫米。测量精度通常可达到±0.5%至±1%。具备高速在线测量能力。

  • 应用特点：在塑料、橡胶、造纸和涂层行业拥有深厚积累和广泛应用。测量稳定可靠，不受材料颜色、表面光泽度和湿度等因素影响，适用于各种不透明或半透明薄膜。

  • 独特优势：提供完整的在线质量控制解决方案，包括传感器、扫描架、控制系统和高级算法，市场地位稳固。其技术在面对复杂表面和环境时表现出色。

• 英国真尚有 (采用激光三角测量法)

  • 核心参数：量程高达1000 mm，采样速度高达 70KHz（部分版本），分辨率0.01%，线性度最高0.03%。光斑大小多样（小于0.06mm到大于1mm）。提供多个量程中点，分别为45mm、310mm、355mm、440mm、375mm和745mm。输出接口支持RS422或RS485。提供三种输出功率选项，分别为小于1mW、小于80mW和小于20mW。

  • 应用特点：可在高速行驶状态下进行检测，无惧动态变化的路面颜色，抗太阳强光辐射能力强，并且在潮湿路面也能稳定测量，无干扰。适用于对速度和环境适应性要求高的薄膜检测。

  • 独特优势：其高采样速度和对潮湿环境的优异抗干扰能力，使其在高速、潮湿的薄膜生产线上具备极佳的稳定性。多种量程中点和光斑大小也提供了广泛的适用性，能满足不同材料和精度要求。

• 日本基恩士 (采用白光共焦原理)

  • 核心参数：典型Z轴测量范围1 mm至20 mm。重复精度可达0.005 µm (5 nm) 至 0.05 µm (50 nm)。采样速度最高可达64 kHz。最小光斑可达约Ø3 µm。

  • 应用特点：特别适用于透明、半透明以及多层薄膜的厚度测量，能够实现高精度、高速度的非接触式检测。测量不受薄膜颜色、粗糙度和倾斜度影响。

  • 独特优势：作为全球自动化和传感器领域的领导者，其产品技术先进，在处理高透明度薄膜方面具有显著优势，且易于集成到现有系统中。

• 加拿大LMI Technologies (采用线共焦成像技术)

  • 核心参数：典型测量范围0.3 mm至3 mm。Z轴重复精度1 µm至1.5 µm。X轴分辨率6.5 µm至20 µm。扫描速度最高10 kHz（线剖面）。

  • 应用特点：在测量透明、半透明和多层材料方面具有卓越性能和独特优势，能够通过一次扫描获取整个剖面的厚度数据，实现高分辨率和高速度的在线检测。

  • 独特优势：其独有的线共焦技术在对薄膜进行全幅或宽幅测量时，能够提供比点测量更全面的数据，且传感器集成了板载处理能力，简化了系统集成。

• 德国菲希尔 (采用X射线荧光原理)

  • 核心参数：通常可测量纳米至数十微米级别的薄膜厚度（例如，数纳米至40微米）。测量精度通常可达到百分之几的相对误差或亚微米级绝对误差。可提供小至数十微米的光斑。

  • 应用特点：适用于各种金属和非金属基材上的涂层、薄膜、合金层和电镀层的厚度测量及成分分析。测量过程非破坏性，可实现高精度、高重复性的在线检测。

  • 独特优势：作为涂层厚度测量和材料分析领域的全球领先供应商，其XRF技术在对含有特定元素的超薄涂层或多层结构进行高精度测量和成分分析时具有独特优势。

（3）选择设备/传感器时需要重点关注的技术指标及选型建议

在选择薄膜在线厚度检测设备时，我们需要像挑选工具一样，根据任务的难度和环境来选择最合适的。

• 测量精度/重复性：

  • 实际意义： 精度就像是测量结果的“真度”，它决定了测量值与真实值有多接近；重复性是测量结果的“稳度”，它决定了多次测量同一个点能得到多接近的结果。对于薄膜，这直接关系到产品是否符合设计厚度以及批次之间的一致性。

  • 影响： 精度和重复性差的传感器会给你错误的信号，导致你误判薄膜厚度，可能生产出不合格品或者浪费材料。

  • 选型建议： 了解你的薄膜产品对厚度波动的容忍范围。如果对精度要求极高（如电池隔膜、光学薄膜），应选择纳米级甚至亚微米级重复精度的白光共焦传感器。对于一般工业薄膜，微米级精度的激光三角测量或β射线系统通常足够。

• 分辨率：

  • 实际意义： 传感器能分辨出的最小厚度变化量。就像你的眼睛能分辨出多细的线条。

  • 影响： 高分辨率能让你及时发现薄膜上的细微厚度变化，避免小问题演变成大问题。

  • 选型建议： 配合精度要求，选择分辨率能覆盖你的最小厚度变化检测需求的传感器。

• 采样速度/响应时间：

  • 实际意义： 采样速度是传感器每秒能进行多少次测量；响应时间是传感器对厚度变化做出反应的速度。这就像生产线的“心跳”频率，决定了你监测的实时性。

  • 影响： 在高速产线上，如果采样速度不够快，你可能错过薄膜上短暂的厚度波动，等到发现问题时，已经生产出一大批不合格产品。

  • 选型建议： 对于高速薄膜生产线，优先选择采样速度在几十kHz的传感器（如高采样率的激光三角测量或白光共焦传感器），确保能实时捕捉和反馈。

• 测量范围：

  • 实际意义： 传感器能测量的最大和最小厚度。

  • 影响： 选错了量程，就像尺子不够长或太粗，无法测量你需要的薄膜厚度。

  • 选型建议： 确保传感器的测量范围能够完全覆盖你所有薄膜产品的设计厚度范围。

• 光斑大小/测量区域：

  • 实际意义： 传感器实际测量到的薄膜表面的物理点大小。

  • 影响： 小光斑能检测到更局部的厚度细节和微小缺陷；大光斑则提供更平均的厚度值，适用于表面不平整但需要平均值的场合。

  • 选型建议： 对于需要检测局部缺陷或微小厚度波动的，选择光斑小的传感器（如白光共焦、XRF）。如果薄膜表面有纹理或需要大范围平均测量，可选择光斑稍大的激光三角传感器。

• 环境适应性：

  • 实际意义： 传感器在各种恶劣工业环境下（如高温、低温、潮湿、粉尘、振动、强光、电磁干扰）能否稳定工作。

  • 影响： 环境因素是传感器稳定性的头号杀手。在潮湿、多尘或振动大的环境中，传感器可能漂移、失效，甚至损坏。

  • 选型建议： 针对高速、潮湿环境，应优先考虑激光三角测量（例如英国真尚有ZLDS100Rd系列在潮湿路面无干扰的特性）或β射线/伽马射线透射法和XRF，它们通常对湿度不敏感。超声波传感器在薄膜厚度测量中通常因需要耦合介质、在空气中衰减大、以及对薄膜表面不平整和抖动敏感而表现不佳，在潮湿环境下尤其容易受水膜和声速变化影响，因此不适合薄膜在线厚度测量，特别是高速、潮湿环境。此外，要选择防护等级高、抗振动和抗强光能力强的工业级传感器。

• 材料适应性：

  • 实际意义： 传感器对不同薄膜材质（透明度、颜色、表面光泽度、化学成分）的适应能力。

  • 影响： 不同的传感器原理对不同材料有偏好。选错原理可能导致无法测量或测量不准。

  • 选型建议：

    • 透明/多层薄膜： 白光共焦或线共焦是最佳选择。

    • 不透明/半透明薄膜： 激光三角测量、β射线透射法、X射线荧光均可，具体取决于薄膜厚度、精度和是否需要成分分析。

    • 含有特定元素的涂层/复合薄膜： X射线荧光具有独特优势。

    • 对颜色、光泽度敏感的薄膜： 优先考虑β射线、XRF或白光共焦，它们基本不受这些因素影响。

（4）实际应用中可能遇到的问题和相应解决建议

在薄膜在线厚度检测的实际应用中，即使选择了最合适的传感器，也可能遇到一些“小插曲”，影响测量效果。就像一辆赛车，除了发动机要好，轮胎、悬挂和驾驶技术也得跟上。

• 问题1：薄膜抖动/振动

  • 原因及影响： 薄膜在高速运行过程中，由于张力不稳、导辊磨损或气流扰动，可能会像波浪一样上下抖动，甚至左右晃动。这会导致传感器测量到的距离值频繁变化，使得最终的厚度数据波动很大，无法真实反映薄膜本身的厚度均匀性。

  • 解决建议：

    1. 优化机械结构： 检查并校正产线上的导辊，确保其运转平稳；优化薄膜的张力控制系统，使其在高速运行时也能保持稳定。

    2. 增加支撑/导向： 在测量区域前后增加额外的导向辊或气浮支撑，以稳定薄膜的运行轨迹。

    3. 数据处理： 采用更复杂的滤波算法（如移动平均、卡尔曼滤波）对原始数据进行处理，平滑掉瞬时抖动带来的噪声。

    4. 选用合适的传感器： 对于剧烈抖动，可考虑采用面阵相机结合结构光或线共焦传感器，一次性获取更宽幅的剖面数据，减少点测量的局限性。

• 问题2：薄膜表面特性变化

  • 原因及影响： 薄膜的颜色、光泽度、透明度、甚至表面粗糙度可能因材料批次差异或生产工艺波动而发生变化。例如，透明薄膜变得半透明，或者表面突然出现反光点或哑光区域。对于激光三角测量这类基于光反射的传感器，这些变化会影响反射光的强度和方向，导致测量信号不稳定或偏移。

  • 解决建议：

    1. 选择抗干扰能力强的传感器： 优先考虑对表面特性不敏感的技术，如β射线透射法、X射线荧光，或白光共焦原理（后者对颜色和光泽度不敏感）。

    2. 传感器自适应功能： 如果选用激光三角传感器，选择具备自动增益控制（AGC）或多重曝光模式的型号，它们能根据反射信号强度自动调整参数，提高适应性。

    3. 校准策略： 对不同表面特性的薄膜，建立对应的校准曲线或参数补偿模型。

• 问题3：潮湿环境中的干扰

  • 原因及影响： 在某些薄膜生产线（如湿法工艺或南方潮湿地区），空气中水汽含量高，甚至可能在传感器光学窗口或薄膜表面形成水雾或水珠。这会影响光线的传播和反射，导致测量失真或读数漂移。

  • 解决建议：

    1. 选用耐潮湿传感器： 激光三角测量法，特别是明确标示“潮湿路面无干扰”的产品，表明其在潮湿环境下具备优异的稳定测量能力。β射线和XRF原理也基本不受潮湿影响。

    2. 防护措施： 在传感器外部加装防护罩或气帘（洁净干燥气体吹扫），防止水汽或污染物直接附着在光学窗口上。

    3. 环境控制： 尽可能改善生产车间的环境湿度控制。

• 问题4：多层薄膜的独立厚度测量困难

  • 原因及影响： 对于多层复合薄膜，许多传感器只能测量总厚度，无法分辨每一层的独立厚度，这使得对复合工艺的精细控制成为挑战。

  • 解决建议：

    1. 选用分层测量技术： 白光共焦原理和X射线荧光技术是解决此问题的理想选择。白光共焦能利用透明层界面的反射进行分层检测；XRF则可以通过分析各层特有元素的含量来推算各层厚度。

• 问题5：传感器长期运行后的校准与维护

  • 原因及影响： 任何精密仪器在长时间运行后，都可能因元器件老化、环境变化等因素导致性能漂移，测量精度下降。

  • 解决建议：

    1. 建立定期校准SOP： 制定详细的校准操作规程，使用符合国家标准的参考样片定期对传感器进行校准。

    2. 环境监控： 持续监控传感器周围的温度、湿度，并确保在传感器的工作温度范围内。

    3. 日常清洁： 定期检查并清洁传感器光学窗口，避免灰尘、油污等影响测量。

    4. 软件诊断： 利用传感器自带的诊断功能，监控其工作状态和信号强度，及时发现潜在问题。

4. 应用案例分享

薄膜在线厚度检测技术在多个行业中扮演着至关重要的角色：

• 塑料薄膜制造： 在挤出、流延、吹塑等塑料薄膜生产线上，实时监控薄膜厚度可以确保产品均匀性，减少原料浪费，提高合格率，广泛应用于包装膜、农业膜、工程膜等生产。

• 电池隔膜生产： 电池隔膜的厚度精度直接影响锂离子电池的性能和安全性。高精度在线厚度检测系统能确保隔膜厚度在微米甚至亚微米级公差内，是提升电池品质的关键环节。

• 光学薄膜/显示屏： 生产用于手机、平板、电视等显示器的光学薄膜时，对多层功能薄膜的每一层厚度控制要求极高，例如防反射涂层、增亮膜等，以保证最终产品的显示效果。

• 涂布行业： 在纸张、金属、纺织品等基材上进行功能性涂层（如胶层、油漆、防腐层）时，在线测量涂层厚度有助于精确控制涂布量，节约成本并保证涂层性能。

• 医疗薄膜： 生产医用包装膜、透皮贴剂等薄膜产品时，严格的厚度控制是确保产品功能性和安全性的基础。